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一、概述
GB/T1409-2006玻璃纖維介電常數(shù)測(cè)試儀是具有多種功能和更高測(cè)試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。GB/T1409-2006玻璃纖維介電常數(shù)測(cè)試儀基本精度為0.05%，測(cè)試頻率2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡(jiǎn)潔。集成了變壓器測(cè)試功能、平衡測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動(dòng)分選測(cè)試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。二、產(chǎn)品用途
介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配）, 三種選項(xiàng)它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。
介電常數(shù)測(cè)試儀中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)可以直接不用人工計(jì)算得到。
三、ε和D性能：
固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測(cè)試。
ε和D測(cè)量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
ε和D測(cè)量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
測(cè)試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度 ;0.1%
顯示范圍 :
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C :0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示范圍 :
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D :0.0001 ～ 9.9999
Q :0.0001 ～ 99999
θ :-179.99°～ 179.99°
測(cè)量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能 :開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式:自動(dòng), 保持
顯示方式 :直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示
存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）
工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，
精度：±0.02%
電容測(cè)量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯
電容測(cè)量基本誤差：±0.05%
損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯
介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）： 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極，能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。
它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
微分頭分辨率：10μm
耐壓：±42Vp（AC+DC）
電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m
使用頻率：5MHz （選配）
四、測(cè)試儀環(huán)境
（1）請(qǐng)不要在多塵、多震動(dòng)、日光直射、有腐蝕氣體下使用。
（2）儀器正常工作時(shí)應(yīng)在溫度為 0℃～40℃，相對(duì)濕度≤75%，因此請(qǐng)盡量在此條件下使用儀器，以保證測(cè)量的準(zhǔn)確度。
（3）本測(cè)試儀器后面板裝有散熱裝置以避免內(nèi)部溫度上升，為了確保通風(fēng)良好，切勿阻塞左右通風(fēng)孔，以使本儀器維持準(zhǔn)確度。
（4）本儀器已經(jīng)經(jīng)過(guò)仔細(xì)設(shè)計(jì)以減少因 AC 電源端輸入帶來(lái)的雜波干擾，然而仍應(yīng)盡量使其在低噪聲的環(huán)境下使用，如果無(wú)法避免，請(qǐng)安裝電源濾波器。
（5）儀器長(zhǎng)期不使用，請(qǐng)將其放在原始包裝箱或相似箱子中儲(chǔ)存在溫度為 5℃～40℃， 相對(duì)濕度不大于 85%RH 的通風(fēng)室內(nèi)，空氣中不應(yīng)含有腐蝕測(cè)量?jī)x的有害雜質(zhì)，且應(yīng)避免日光直射。
儀器特別是連接被測(cè)件的測(cè)試導(dǎo)線應(yīng)遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)，以免對(duì)測(cè)量
五、使用測(cè)試夾具
儀器測(cè)試夾具或測(cè)試電纜應(yīng)保持清潔，被測(cè)試器件引腳保持清潔，以保證被測(cè)器件與夾具接觸良好。
將測(cè)試夾具或測(cè)試電纜連接于本儀器前面板的 Hcur、Hpot、Lcur、Lpot 四個(gè)測(cè)試端上。對(duì)具有屏蔽外殼的被測(cè)件，可以把屏蔽層與儀器地“┴”相連。
注：沒(méi)有安裝測(cè)試夾具或測(cè)試電纜時(shí)，儀器將顯示一個(gè)不穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果。
六、預(yù)熱
（1）為保證儀器精確測(cè)量，開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間應(yīng)不少于 15 分鐘
（2）請(qǐng)勿頻繁開(kāi)關(guān)儀器，以引起內(nèi)部數(shù)據(jù)混亂。
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