四探針粉體電導(dǎo)率測試儀四端法電阻率測量儀四探針法測量材料電阻的核心優(yōu)勢在于其獨特的探針設(shè)計及測量原理，具體優(yōu)點可歸納如下：

一、消除接觸電阻與導(dǎo)線電阻干擾

四探針粉體電導(dǎo)率測試儀四端法電阻率測量儀 電流-電壓探針分離：外側(cè)兩探針注入電流，內(nèi)側(cè)兩探針測量電壓，因電壓探針輸入阻抗，流經(jīng)電流極小，接觸電阻產(chǎn)生的壓降可忽略不計。

獨立測量回路：電壓測量僅依賴探針間電勢差，與導(dǎo)線電阻無關(guān)，避免傳統(tǒng)兩探針法中串聯(lián)電阻導(dǎo)致的誤差。

二、適用性廣泛

材料范圍寬：適用于高阻（如半導(dǎo)體）到低阻（如金屬）材料的測量，覆蓋電阻率范圍廣（10??～103 Ω·cm）。

樣品形狀靈活：對樣品平整度或厚度要求較低，可測量薄膜、塊體、不規(guī)則形狀材料，甚至粉末壓片。

三、測量精度高

電流場穩(wěn)定：固定探針間距設(shè)計使電流分布均勻，減少邊緣效應(yīng)影響。

非破壞性測量：無需制備合金電極，不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，適合工藝監(jiān)控與重復(fù)測試。

四、操作便捷高效

快速測量：無需復(fù)雜校準，可直接通過公式（如ρ= (V/I) × 2πS）計算電阻率。

環(huán)境適應(yīng)性：測量結(jié)果受溫濕度影響小，實驗室與工業(yè)場景均適用。

五、特殊場景優(yōu)勢

薄層材料：通過修正系數(shù)（如4.532）簡化超薄樣品（如半導(dǎo)體圓片）的電阻率計算。

不均勻性分析：可沿樣品徑向測量斷面電阻率，觀察電阻率分布差異。

綜上，四探針法通過分離電流與電壓回路、優(yōu)化探針布局，實現(xiàn)了高精度、高適應(yīng)性的電阻測量，成為半導(dǎo)體、電池材料等領(lǐng)域的主流方法。

參數(shù)

1. 便于查看的顯示/直觀的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學，直觀使用；

2. 基本設(shè)置操作簡單，方阻、電阻、電阻率、電導(dǎo)率和分選結(jié)果；多種參數(shù)同時顯示。

3. 精度高：電阻基本準確度： 0.01％；

方阻基本準確度：1%；

電阻率基本準確度：1%

4. 整機測量相對誤差：≤±1%；整機測量標準不確定度：≤±1%

5. 四位半顯示讀數(shù)；十量程自動或手動測試；20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ 10檔分選；實現(xiàn)HIGH/IN/LOW分選

6. 測量范圍寬： 電阻：10-7Ω～10+8Ω ；方阻：10-7Ω/□～10+8Ω/□；

7. 正反向電流源修正測量電阻誤差

8. 恒流源：電流量程為：DC100mA-1A；儀器配有恒流源開關(guān)可有效保護被測件，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，后開恒流源開關(guān)，避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時，恒流源開關(guān)可一直處于開的狀態(tài)。

9. 可配合多種探頭進行測試；也可配合多種測試臺進行測試。

10. 校正功能：可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。

11. 厚度可預(yù)設(shè)，自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率。

12. 自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。

13. 雙電測測試模式，測量精度高、穩(wěn)定性好.

14. 具備溫度補償功能，修正被測材料溫漂帶來的測試結(jié)果偏差。

15. 比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業(yè)效率得以提高。3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結(jié)果。

16. 測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。

17. 軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點的測試數(shù)據(jù)；可供用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分

析。

18.顯示語言 英文/中文

19.供電模式110v/220v